GB/T 2423.1-2001

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本標(biao)準所(suo)涉及(ji)的(de)低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)適用(yong)(yong)于(yu)非(fei)散熱和(he)(he)散熱兩(liang)類試(shi)驗(yan)樣品。對(dui)于(yu)非(fei)散熱試(shi)驗(yan)樣品，試(shi)驗(yan)Aa和(he)(he)Ab不違(wei)背早期(qi)發行的(de)標(biao)準。本標(biao)準**于(yu)用(yong)(yong)來考核或(huo)確(que)定電工、電子產品(包(bao)括件、設備及(ji)其他產品)在低(di)溫(wen)環(huan)境(jing)條件下貯存(cun)和(he)(he)(或(huo))使用(yong)(yong)的(de)適應性。這(zhe)一低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)不能用(yong)(yong)來評價(jia)試(shi)驗(yan)樣品對(dui)溫(wen)度(du)變化的(de)耐抗性和(he)(he)在溫(wen)度(du)變化期(qi)間的(de)工作能力，在這(zhe)種情況下，應當(dang)采(cai)用(yong)(yong)試(shi)驗(yan)N:溫(wen)度(du)變化試(shi)驗(yan)方法。

低溫試驗方法分(fen)為以下三類:

非(fei)散熱試驗(yan)樣品低溫(wen)試驗(yan):——試驗(yan)Aa:

溫度突變——試驗(yan)Ab:

溫度漸變(bian)散熱試驗(yan)樣品低溫試驗(yan):——試驗(yan)Ad:

溫(wen)(wen)度(du)(du)漸變(bian)本試驗(yan)方法(fa)通常(chang)用于條件試驗(yan)期(qi)間(jian)能達到(dao)溫(wen)(wen)度(du)(du)穩定(ding)的試驗(yan)樣品(pin)(pin)。試驗(yan)持續時(shi)(shi)間(jian)是(shi)從試驗(yan)樣品(pin)(pin)溫(wen)(wen)度(du)(du)達到(dao)穩定(ding)時(shi)(shi)開始(shi)計算的。在特殊(shu)情(qing)況下，如果(guo)條件試驗(yan)期(qi)間(jian)試驗(yan)樣品(pin)(pin)達不(bu)到(dao)溫(wen)(wen)度(du)(du)穩定(ding)，則試驗(yan)持續時(shi)(shi)間(jian)從試驗(yan)箱(室(shi))達到(dao)規定(ding)試驗(yan)溫(wen)(wen)度(du)(du)時(shi)(shi)開始(shi)計算。

相關規范應規定:

a)試驗(yan)箱(室)內溫度(du)變化速率;

b)試驗樣品放入試驗箱(室)的時間;

c)試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)在試(shi)驗(yan)條(tiao)件(jian)下(xia)暴露試(shi)驗(yan)開始的時間;d)試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)通電或加負載的時間。在這些條(tiao)件(jian)下(xia)，相關(guan)規范的制定者可(ke)根據(ju)GB/T2424.1-1989導則(ze)選(xuan)定以上(shang)4個參數(以上(shang)條(tiao)件(jian)下(xia)的修訂正在考慮(lv)之中(zhong))。