電子產品溫度老化測試高低溫試驗箱

一、高低溫的用(yong)途

該設備主要(yao)是(shi)針(zhen)對于電工(gong)、電子產品，以(yi)及其(qi)原器件，及其(qi)它(ta)材料在高溫(wen)、低溫(wen)、濕熱及其(qi)循環變(bian)化的環境下貯存(cun)、運輸、使用時的適應性試(shi)驗。

該試驗設(she)備(bei)主要(yao)(yao)(yao)用(yong)于(yu)對產(chan)(chan)品(pin)按照標準要(yao)(yao)(yao)求或用(yong)戶自(zi)定(ding)要(yao)(yao)(yao)求，在(zai)低溫、高(gao)溫、高(gao)溫高(gao)濕(shi)及(ji)(ji)其循環(huan)變(bian)化條件下，對產(chan)(chan)品(pin)的物(wu)理以(yi)及(ji)(ji)其他相(xiang)關特性(xing)進(jin)行環(huan)境模擬測試，測試后(hou)，通過檢(jian)測，來(lai)判斷產(chan)(chan)品(pin)的性(xing)能，是否仍然(ran)能夠符合預定(ding)要(yao)(yao)(yao)求，以(yi)便(bian)供(gong)產(chan)(chan)品(pin)設(she)計、改進(jin)、鑒定(ding)及(ji)(ji)出(chu)廠檢(jian)驗用(yong)。

電子產品溫度老化測試高低溫試驗箱

二(er)、高低溫箱設備的主要技術(shu)指標

1 、溫度(du)范圍：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100（150）℃

高低溫交變試驗機產品規格
型號:K-80T 內型尺寸:D×W×H 400×500×400
型號:K-150T 內型尺寸:D×W×H 500×600×500
型號:K-225T 內型尺寸:D×W×H 500×750×600
型號:K-408T 內型尺寸:D×W×H 600×850×800
型號:K-800T 內型尺寸:D×W×H1000×1000×800
型號:K-1000T內型尺寸: D×W×H1000×1000×1000

參(can)照標準
GB/T5170.5-2008 濕熱試驗設備方法
GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2008試驗A 低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B 高溫試驗方法
GB/T2423.3-2006試驗Ca 恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.4-2008試驗Db 交變濕熱試驗方法