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芯片測(ce)(ce)試(shi)三箱式冷熱(re)沖擊試(shi)驗機是(shi)金屬、塑料(liao)(liao)、橡膠(jiao)、電子(zi)等材料(liao)(liao)行業*的測(ce)(ce)試(shi)設備,用于測(ce)(ce)試(shi)材料(liao)(liao)結構(gou)或復合材料(liao)(liao),在(zai)瞬間下經溫及極低(di)溫的連(lian)續環境(jing)下所(suo)能忍受(shou)的程度,得以在(zai)Z短時間內檢測(ce)(ce)試(shi)樣因(yin)熱(re)脹(zhang)冷縮所(suo)引起的化學變化或物理(li)傷害
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